UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.

Стандартный №

UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011

Дата публикации

2011

Разместил

AENOR

Последняя версия

UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011

UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011 История

• 2011 UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.
• 2003 UNE-EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.