ASTM E1143-05(2019) Стандартный метод испытаний для определения линейности параметра фотоэлектрического устройства относительно испытательного параметра
1.1 Этот метод испытаний определяет степень линейности параметра фотоэлектрического устройства по отношению к параметру испытания, например, току короткого замыкания по отношению к излучению. 1.2 Линейность, определяемая этим методом испытаний, применима только во время испытаний и не подразумевает никакого прошлого или будущего уровня производительности. 1.3 Этот метод испытаний применяется только к наземным фотоэлектрическим устройствам без концентратора. 1.4 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.5 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности, охраны труда и окружающей среды, а также определение применимости нормативных ограничений перед использованием. 1.6 Настоящий международный стандарт был разработан в соответствии с международно признанными принципами стандартизации, установленными в Решении о принципах разработки международных стандартов, руководств и рекомендаций, выпущенном Комитетом Всемирной торговой организации по техническим барьерам в торговле (ТБТ).
ASTM E1143-05(2019) Ссылочный документ
ASTM E1036 Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек
ASTM E1328 Стандартная терминология, относящаяся к фотоэлектрическому преобразованию солнечной энергии
ASTM E772 Стандартная терминология, касающаяся преобразования солнечной энергии
ASTM E948 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
ASTM E1143-05(2019) История
2019ASTM E1143-05(2019) Стандартный метод испытаний для определения линейности параметра фотоэлектрического устройства относительно испытательного параметра
2005ASTM E1143-05(2015) Стандартный метод испытаний для определения линейности параметра фотоэлектрического устройства относительно испытательного параметра
2005ASTM E1143-05(2010) Стандартный метод испытаний для определения линейности параметра фотоэлектрического устройства относительно испытательного параметра
2005ASTM E1143-05 Стандартный метод испытаний для определения линейности параметра фотоэлектрического устройства относительно испытательного параметра
1999ASTM E1143-99 Стандартный метод испытаний для определения линейности параметра фотоэлектрического устройства относительно испытательного параметра