IEC 60749-20-1:2019 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 20-1. Обращение, упаковка, маркировка и транспортировка устройств поверхностного монтажа, чувствительных к комбинированному воздействию влаги и пайки. - Стандарты и спецификации PDF

IEC 60749-20-1:2019
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 20-1. Обращение, упаковка, маркировка и транспортировка устройств поверхностного монтажа, чувствительных к комбинированному воздействию влаги и пайки.

Стандартный №
IEC 60749-20-1:2019
Дата публикации
2019
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
Последняя версия
IEC 60749-20-1:2019

IEC 60749-20-1:2019 История

  • 0000 IEC 60749-20-1:2019 RLV
  • 2009 IEC 60749-20-1:2009 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 20-1. Обращение, упаковка, маркировка и транспортировка устройств для поверхностного монтажа, чувствительных к комбинированному воздействию влаги и тепла при пайке.



© 2023. Все права защищены.