GB/T 43226-2023 Метод однособытийного тестирования мягких ошибок во временной области для полупроводниковых интегральных схем, используемых в аэрокосмических приложениях. (Англоязычная версия)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия
GB/T 43226-2023
GB/T 43226-2023 История
2023GB/T 43226-2023 Метод однособытийного тестирования мягких ошибок во временной области для полупроводниковых интегральных схем, используемых в аэрокосмических приложениях.