IEC TR 63133:2017
Полупроводниковые устройства — оценка уровня старения полупроводниковых устройств на основе сканирования (Редакция 1.0)

Стандартный №

IEC TR 63133:2017

Дата публикации

2017

Разместил

IEC - International Electrotechnical Commission

Последняя версия

IEC TR 63133:2017

сфера применения

В этом техническом отчете описана методика проектирования запоминающего элемента для оценки производительности, который может отслеживать старение полупроводников и характеризовать уровень старения. Предполагаемый уровень старения может быть использован для повышения надежности системы.

IEC TR 63133:2017 История

• 2017 IEC TR 63133:2017 Полупроводниковые устройства — оценка уровня старения полупроводниковых устройств на основе сканирования (Редакция 1.0)