ASTM F728-81(2003) - Стандарты и спецификации PDF

ASTM F728-81(2003)

Стандартный №
ASTM F728-81(2003)
Дата публикации
1970
Разместил
/
Последняя версия
ASTM F728-81(2003)
сфера применения
1.1 Данная практика охватывает подготовку оптического микроскопа к измерениям размеров. Предназначен для подготовки оптического микроскопа к измерению ширины линий в диапазоне от 0,5 до 12 мкм включительно на фотошапках с твердой поверхностью и обработанных кремниевых пластинах. 1.2 Настоящая практика применима к микроскопу, оснащенному микрометрической насадкой, такой как оптический нитевидный, видеофилярный, оптический микрометр для сдвига изображений с оптическим или видеодисплеем, оптический сканирующий изображение или сканирующий видеоизображение микрометр. Регулировка и калибровка насадки микрометра не входит в данную практику. 1.3 Данная методика предназначена для наблюдения оптически прозрачных образцов в проходящем свете в светлом поле или оптически непрозрачных образцов в отраженном свете в светлом поле. Он не предназначен для освещения темного поля. 1.4 Данная практика ограничивается оптическим микроскопом с системой освещения, которая является неотъемлемой частью корпуса микроскопа и включает конденсорную линзу. 1.5 Отсутствует полезный рисунок, показывающий расположение компонентов для всех конструкций микроскопов; поэтому эта практика не содержит иллюстраций и процедур, которые предполагают использование конкретного микроскопа. 1.6 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием. Более конкретные указания на опасность приведены в примечании 7, примечании 8 и примечании 17.

ASTM F728-81(2003) Ссылочный документ

  • ASTM E175 Стандартная терминология микроскопии*1982-10-27 Обновление
  • ASTM F127 

ASTM F728-81(2003) История

  • 1970 ASTM F728-81(2003)
  • 1987 ASTM F728-81(1997)e1 Стандартная практика подготовки оптического микроскопа к измерениям размеров



© 2023. Все права защищены.