1.1 Данная практика охватывает подготовку оптического микроскопа к измерениям размеров. Предназначен для подготовки оптического микроскопа к измерению ширины линий в диапазоне от 0,5 до 12 мкм включительно на фотошапках с твердой поверхностью и обработанных кремниевых пластинах. 1.2 Настоящая практика применима к микроскопу, оснащенному микрометрической насадкой, такой как оптический нитевидный, видеофилярный, оптический микрометр для сдвига изображений с оптическим или видеодисплеем, оптический сканирующий изображение или сканирующий видеоизображение микрометр. Регулировка и калибровка насадки микрометра не входит в данную практику. 1.3 Данная методика предназначена для наблюдения оптически прозрачных образцов в проходящем свете в светлом поле или оптически непрозрачных образцов в отраженном свете в светлом поле. Он не предназначен для освещения темного поля. 1.4 Данная практика ограничивается оптическим микроскопом с системой освещения, которая является неотъемлемой частью корпуса микроскопа и включает конденсорную линзу. 1.5 Отсутствует полезный рисунок, показывающий расположение компонентов для всех конструкций микроскопов; поэтому эта практика не содержит иллюстраций и процедур, которые предполагают использование конкретного микроскопа. 1.6 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием. Более конкретные указания на опасность приведены в примечании 7, примечании 8 и примечании 17.