T/CIE 151-2022
Метод испытания на динамическое старение микросхем программируемой вентильной матрицы (FPGA) (Англоязычная версия)

Стандартный №

T/CIE 151-2022

язык

Китайский, Доступно на английском

Разместил

Group Standards of the People's Republic of China

Последняя версия

T/CIE 151-2022

T/CIE 151-2022 История

• 1970 T/CIE 151-2022 Метод испытания на динамическое старение микросхем программируемой вентильной матрицы (FPGA)