ANSI/IEEE Std 641-1987
Стандартные определения IEEE и характеристики полупроводниковых матриц из оксидов металлов

Стандартный №

ANSI/IEEE Std 641-1987

Дата публикации

1988

Разместил

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Последняя версия

ANSI/IEEE Std 641-1987

сфера применения

Этот стандарт состоит из десяти разделов: введение в устройство MNOS и массив памяти; символы и определения; ссылки, содержащие дополнительные подробности по конкретным концепциям; массивы MNOS и функциональные операции; сохранение массива MNOS; свойство долговечности массива MNOS; соображения надежности для массивов MNOS; методология тестирования, необходимая для установления уникальных свойств массива MNOS для обоих...

ANSI/IEEE Std 641-1987 История

• 1988 ANSI/IEEE Std 641-1987 Стандартные определения IEEE и характеристики полупроводниковых матриц из оксидов металлов