SJ/T 11705-2018
Методы измерения импеданса заземления и питания корпусов микроэлектронных устройств (Англоязычная версия)

Стандартный №

SJ/T 11705-2018

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2018

Разместил

工业和信息化部

Последняя версия

SJ/T 11705-2018

SJ/T 11705-2018 История

• 2018 SJ/T 11705-2018 Методы измерения импеданса заземления и питания корпусов микроэлектронных устройств