BS ISO 11505:2012
Химический анализ поверхности. Общие процедуры количественного профилирования состава по глубине методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда
- Стандартный №
- BS ISO 11505:2012
- Дата публикации
- 2013
- Разместил
- British Standards Institution (BSI)
- состояние
- 2013-01
- быть заменен
- BS ISO 11505:2013
- Последняя версия
- BS ISO 11505:2013
- сфера применения
- Область применения Настоящий международный стандарт описывает метод оптической эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда (GD-OES) для определения толщины, массы на единицу площади и химического состава пленок поверхностного слоя. Он ограничивается описанием общих процедур количественного определения GD. -OES и не применим непосредственно для количественного определения отдельных материалов, имеющих различную толщину и определяемые элементы. Примечание - В любом отдельном стандарте на испытуемый материал необходимо указывать диапазон толщины поверхностного слоя, а также аналитических элементов, и включать результаты межлабораторных испытаний для валидации методов.
BS ISO 11505:2012 История
- 2013 BS ISO 11505:2013 Химический анализ поверхности. Общие процедуры количественного профилирования состава по глубине методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда
- 2013 BS ISO 11505:2012 Химический анализ поверхности. Общие процедуры количественного профилирования состава по глубине методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда
