ASTM D8331/D8331M-20 Стандартный метод испытаний для измерения толщины пленки тонкопленочных покрытий неразрушающими методами с использованием прочных оптических помех - Стандарты и спецификации PDF

ASTM D8331/D8331M-20
Стандартный метод испытаний для измерения толщины пленки тонкопленочных покрытий неразрушающими методами с использованием прочных оптических помех

Стандартный №
ASTM D8331/D8331M-20
Дата публикации
2020
Разместил
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Последняя версия
ASTM D8331/D8331M-20
сфера применения
1.1 Этот метод испытаний включает измерение толщины пленки слоя органического покрытия, нанесенного в рулонах. Операторы могут использовать этот метод в процессе нанесения покрытия или в лабораторных условиях. 1.2 В этом методе испытаний не указаны ни ожидаемая толщина пленки/результаты испытаний покрытия, ни конкретный файл «рецепта», необходимый для измерения покрытия. 1.3 Значения, указанные в единицах СИ или дюймах-фунтах, следует рассматривать отдельно как стандартные. Значения, указанные в каждой системе, не обязательно являются точными эквивалентами; поэтому для обеспечения соответствия стандарту каждая система должна использоваться независимо от другой, а значения двух систем не должны объединяться. 1.4 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности, охраны труда и окружающей среды, а также определение применимости нормативных ограничений перед использованием. 1.5 Настоящий международный стандарт был разработан в соответствии с международно признанными принципами стандартизации, установленными в Решении о принципах разработки международных стандартов, руководств и рекомендаций, выпущенном Комитетом Всемирной торговой организации по техническим барьерам в торговле (ТБТ).

ASTM D8331/D8331M-20 История

  • 2020 ASTM D8331/D8331M-20 Стандартный метод испытаний для измерения толщины пленки тонкопленочных покрытий неразрушающими методами с использованием прочных оптических помех



© 2023. Все права защищены.