KS C IEC 61788-17:2020
Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.

Стандартный №

KS C IEC 61788-17:2020

Дата публикации

2020

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Последняя версия

KS C IEC 61788-17:2020

KS C IEC 61788-17:2020 История

• 2020 KS C IEC 61788-17:2020 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.