IEC 62373-1:2020
Полупроводниковые приборы. Испытание температурной стабильности смещения для металлооксидных, полупроводниковых и полевых транзисторов (MOSFET). Часть 1. Быстрое испытание BTI для MOSFET.
- Стандартный №
- IEC 62373-1:2020
- Дата публикации
- 2020
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 62373-1:2020
IEC 62373-1:2020 История
- 2020 IEC 62373-1:2020 Полупроводниковые приборы. Испытание температурной стабильности смещения для металлооксидных, полупроводниковых и полевых транзисторов (MOSFET). Часть 1. Быстрое испытание BTI для MOSFET.
