CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization
Последняя версия
EN IEC 60749-17:2019
сфера применения
Испытание нейтронным облучением проводится для определения восприимчивости полупроводниковых устройств к деградации неионизирующих потерь энергии (NIEL). Описанный здесь тест применим к интегральным схемам и дискретным полупроводниковым устройствам и предназначен для приложений, связанных с военной и аэрокосмической отраслью. Это разрушительное испытание. Цели испытания заключаются в следующем: а) обнаружить и измерить ухудшение критических параметров полупроводникового устройства в зависимости от флюенса нейтронов@ и б) определить, находятся ли указанные параметры полупроводникового устройства в заданных пределах после воздействия заданного уровня флюенс нейтронов (см. раздел 6).
EN IEC 60749-17:2019 История
2019EN IEC 60749-17:2019 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение