DIN 51456:2013-10
Испытание материалов для полупроводниковой техники - Анализ поверхности кремниевых пластин методом многоэлементного определения в водных аналитических растворах с использованием масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ИСП-МС)