ISO 17862:2013
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
- Стандартный №
- ISO 17862:2013
- Дата публикации
- 2013
- Разместил
- International Organization for Standardization (ISO)
- состояние
- быть заменен
- ISO 17862:2022
- Последняя версия
- ISO 17862:2022
- сфера применения
- Настоящий международный стандарт определяет метод определения максимальной скорости счета для приемлемого предела отклонения от линейности шкалы интенсивности в масс-спектрометрах вторичных ионов с подсчетом одиночных ионов с временным пролетом (TOF) с использованием теста, основанного на изотопных соотношениях в спектрах поли( тетрафторэтилен) (ПТФЭ). Он также включает в себя метод коррекции нелинейности интенсивности, возникающей из-за потери интенсивности микроканальной пластиной (MCP) или сцинтиллятора и фотоумножителя с последующей системой обнаружения время-цифрового преобразователя (TDC), вызванной вторичными ионами, прибывающими во время мертвого времени. Коррекция может увеличить диапазон интенсивности для линейности 95 % более чем в 50 раз, так что можно использовать более высокую максимальную скорость счета для тех спектрометров, для которых было доказано, что соответствующие формулы коррекции действительны. Настоящий международный стандарт может также использоваться для подтверждения достоверности приборов, в которых поправка за мертвое время уже произведена, но дальнейшее увеличение которых может или не может быть возможным.
ISO 17862:2013 История
- 2022 ISO 17862:2022 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
- 2013 ISO 17862:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
