BS EN ISO 9220:2022
Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа

Стандартный №

BS EN ISO 9220:2022

Дата публикации

2022

Разместил

British Standards Institution (BSI)

Последняя версия

BS EN ISO 9220:2022

сфера применения

Область применения В настоящем документе определен разрушающий метод измерения локальной толщины металлических и других неорганических покрытий путем исследования поперечных сечений с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ).Метод применим для толщин до нескольких миллиметров, но для таких Для толстых покрытий обычно более практично использовать световой микроскоп (см. ISO 1463). Нижний предел толщины зависит от достигнутой неопределенности измерения (см. раздел 10). Примечание - Этот метод можно также использовать для органических слоев, если они не повреждены Подготовка поперечного сечения электронным лучом во время визуализации.

BS EN ISO 9220:2022 История

• 2022 BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
• 1989 BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.