EN IEC 61788-7:2020 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление высокотемпературных сверхпроводников на микроволновых частотах
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Последняя версия
EN IEC 61788-7:2020
сфера применения
МЭК 61788-7:2020 доступен как МЭК 61788-7:2020 RLV, который содержит международный стандарт и его версию Redline, показывающую все изменения технического содержания по сравнению с предыдущим изданием. МЭК 61788-7:2020 описывает измерение поверхности. сопротивление (Rs) сверхпроводников на СВЧ-частотах стандартным двухрезонаторным методом. Объектом измерения является температурная зависимость Rs на резонансной частоте. Применимый диапазон измерения Rs для этого метода следующий:
——Частота: 8 ГГц < f < 30 ГГц - Разрешение измерения: 0,01 мОм на частоте 10 ГГц. Данные Rs на измеренной частоте, масштабированные до 10 ГГц, принимая для сравнения правило f2. Настоящее третье издание отменяет и заменяет второе издание, опубликованное в 2006 году. Настоящее издание представляет собой техническую доработку. В это издание включены следующие существенные технические изменения по сравнению с предыдущим изданием: a) добавлено информативное Приложение B, относительная комбинированная стандартная неопределенность для измерения поверхностного сопротивления; б) заявления о прецизионности и достоверности были преобразованы в неопределенность; в) добавлена воспроизводимость измерения поверхностного сопротивления.
EN IEC 61788-7:2020 История
2020EN IEC 61788-7:2020 Сверхпроводимость. Часть 7. Измерения электронных характеристик. Поверхностное сопротивление высокотемпературных сверхпроводников на микроволновых частотах