SJ 2757-1987
Метод измерения инфракрасным отражением концентрации носителей заряда в сильнолегированных полупроводниках (Англоязычная версия)

Стандартный №

SJ 2757-1987

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

1987

Разместил

Professional Standard - Electron

Последняя версия

SJ 2757-1987

сфера применения

Настоящий стандарт применим для измерения концентрации носителей в сильнолегированных полупроводниковых объемных материалах, а также для измерения концентрации носителей в эпитаксиальных слоях, скрытых слоях и диффузионных слоях.

SJ 2757-1987 История

• 1987 SJ 2757-1987 Метод измерения инфракрасным отражением концентрации носителей заряда в сильнолегированных полупроводниках