SJ/T 1147-1993 (Англоязычная версия) Метод испытания тангенса угла диэлектрических потерь и диэлектрической канстанты органической пленки, используемой в конденсаторах. - Стандарты и спецификации PDF

SJ/T 1147-1993
Метод испытания тангенса угла диэлектрических потерь и диэлектрической канстанты органической пленки, используемой в конденсаторах. (Англоязычная версия)

Стандартный №
SJ/T 1147-1993
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
1993
Разместил
Professional Standard - Electron
состояние
Последняя версия
SJ/T 1147-1993
заменять
SJ 1147-1977
сфера применения
Настоящий стандарт определяет методы испытаний тангенса диэлектрических потерь и диэлектрической проницаемости органических пленок для конденсаторов.

SJ/T 1147-1993 История

  • 1993 SJ/T 1147-1993 Метод испытания тангенса угла диэлектрических потерь и диэлектрической канстанты органической пленки, используемой в конденсаторах.
  • 0000 SJ 1147-1977



© 2023. Все права защищены.