SJ/T 11210-1999
Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 4. Метод измерения резонансной частоты нагрузки fL, резонансного сопротивления нагрузки RL и расчета других производных значений кварцевого кристалла до 30 МГц. (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- SJ/T 11210-1999
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1999
- Разместил
- Professional Standard - Electron
- Последняя версия
- SJ/T 11210-1999
- сфера применения
- Этот стандарт определяет простой метод измерения резонансной частоты нагрузки f|(L) и резонансного сопротивления нагрузки R|(L) кварцевых компонентов с частотами до 30 МГц. На основании этих двух измерений можно рассчитать смещение резонансной частоты нагрузки △F|(L), диапазон частоты △f|(L|(1)L|(2)) и чувствительность к тяге, определенную в IEC122-1, поправка 1. С.
SJ/T 11210-1999 История
- 1999 SJ/T 11210-1999 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 4. Метод измерения резонансной частоты нагрузки fL, резонансного сопротивления нагрузки RL и расчета других производных значений кварцевого кристалла до 30 МГц.
