SJ 3254-1989
Методы экранирования образцов транзисторов средней и малой мощности для измерений (Англоязычная версия)

Стандартный №

SJ 3254-1989

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

1989

Разместил

Professional Standard - Electron

состояние

снять со счета 2010-02

Последняя версия

SJ 3254-1989

сфера применения

Настоящий стандарт применяется к первичным транзисторам транзисторов малой и средней мощности с максимально допустимой рассеиваемой мощностью коллектора (Pcm) менее 1 Вт.

SJ 3254-1989 История

• 1989 SJ 3254-1989 Методы экранирования образцов транзисторов средней и малой мощности для измерений