Этот метод заключается в непосредственном наблюдении и измерении толщины покрытия поперечного сечения детали с помощью металлографического микроскопа соответствующего увеличения. Он подходит для измерения толщины различных покрытий на разных основах, но точность измерения снижается, если покрытие тонкое. Этот метод позволяет получить наилучшую абсолютную точность измерения ± 0,8 микрона.
QB/T 3817-1999 История
1986QB/T 3817-1999 Метод определения толщины металлических покрытий и конверсионных покрытий изделий легкой промышленности.Металлографический микроскопический метод.