IEC 60749-44:2016
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 44. Метод испытания на эффект одиночного события (SEE), облученный нейтронным пучком, для полупроводниковых приборов

Стандартный №

IEC 60749-44:2016

Дата публикации

2016

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 60749-44:2016

IEC 60749-44:2016 История

• 2016 IEC 60749-44:2016 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 44. Метод испытания на эффект одиночного события (SEE), облученный нейтронным пучком, для полупроводниковых приборов