NF EN 62047-13:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности соединения для МЭМС-структур. - Стандарты и спецификации PDF

NF EN 62047-13:2012
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности соединения для МЭМС-структур.

Стандартный №
NF EN 62047-13:2012
Дата публикации
2012
Разместил
Association Francaise de Normalisation
Последняя версия
NF EN 62047-13:2012

NF EN 62047-13:2012 История

  • 2012 NF EN 62047-13:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности соединения для МЭМС-структур.



© 2023. Все права защищены.