JB/T 7503-1994
Толщина поперечного сечения металлических покрытий Метод измерения сканирующим электронным микроскопом (Англоязычная версия)

Стандартный №

JB/T 7503-1994

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

1994

Разместил

Professional Standard - Machinery

состояние

снять со счета

Последняя версия

JB/T 7503-1994

сфера применения

Настоящий стандарт устанавливает технические требования к методам сканирующей электронной микроскопии измерения толщины поперечного сечения металлических покрытий. Этот стандарт пригоден для измерения толщины металлических покрытий в сечениях от микронов до миллиметров.

JB/T 7503-1994 История

• 1994 JB/T 7503-1994 Толщина поперечного сечения металлических покрытий Метод измерения сканирующим электронным микроскопом