EN 60749-40:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 40. Метод испытания падением уровня платы с использованием тензодатчика.
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Последняя версия
EN 60749-40:2011
сфера применения
Стандарт IEC 60749-40:2011 предназначен для оценки и сравнения характеристик падения полупроводниковых устройств поверхностного монтажа для портативных электронных изделий в условиях ускоренных испытаний, когда чрезмерный изгиб печатной платы приводит к выходу изделия из строя. Цель состоит в том, чтобы стандартизировать методологию испытаний, чтобы обеспечить воспроизводимую оценку характеристик испытаний на падение полупроводниковых устройств поверхностного монтажа, одновременно дублируя виды отказов, обычно наблюдаемые во время испытаний на уровне продукта. В этом международном стандарте используется тензодатчик для измерения деформации и скорости деформации платы вблизи компонента.
EN 60749-40:2011 История
2011EN 60749-40:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 40. Метод испытания падением уровня платы с использованием тензодатчика.