IEEE Std 1005-1998
Стандартные определения IEEE и характеристики полупроводниковых матриц с плавающим затвором

Стандартный №

IEEE Std 1005-1998

Дата публикации

1998

Разместил

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Последняя версия

IEEE Std 1005-1998

сфера применения

Дана только краткая форма. Этот стандарт описывает основную физику и работу массивов памяти с плавающими затворами, в частности, стираемых УФ-излучением EPROM, байтовых перезаписываемых E/sup 2/PROM и блочных перезаписываемых «флэш-EEPROM». , рассматриваются опасности надежности с упором на удержание, выносливость и помехи.Также есть статьи по вопросам тестирования матриц с плавающими затворами и их жестких...

IEEE Std 1005-1998 История

• 1998 IEEE Std 1005-1998 Стандартные определения IEEE и характеристики полупроводниковых матриц с плавающим затвором
• 1991 IEEE Std 1005-1991 Стандартные определения IEEE и характеристики полупроводниковых матриц с плавающим затвором