SJ 2355.7-1983 Метод измерения пиковой длины волны излучения и спектральной полосы пропускания излучения светоизлучающих устройств (Англоязычная версия)
2009SJ/T 11394-2009 Методы измерения полупроводниковых светодиодов
1983SJ 2355.7-1983 Метод измерения пиковой длины волны излучения и спектральной полосы пропускания излучения светоизлучающих устройств
SJ 2355.7-1983 Метод измерения пиковой длины волны излучения и спектральной полосы пропускания излучения светоизлучающих устройств было изменено на SJ/T 11394-2009 Методы измерения полупроводниковых светодиодов.