CNS 5073-1988
Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых приборов (испытание на удар) (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- CNS 5073-1988
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1988
- Разместил
- Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China
- Последняя версия
- CNS 5073-1988
- сфера применения
- Настоящий стандарт устанавливает метод испытаний с целью оценки структурной и механической стойкости отдельного полупроводникового прибора для электронных устройств, когда он может подвергнуться сильному воздействию из-за неосторожного обращения, транспортировки и использования.
CNS 5073-1988 История
- 1988 CNS 5073-1988 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых приборов (испытание на удар)
