JEDEC JESD22-C101F-2013
Метод испытания модели заряженного устройства, индуцированного полем, для определения порогов стойкости микроэлектронных компонентов к электростатическому разряду
- Стандартный №
- JEDEC JESD22-C101F-2013
- Дата публикации
- 2013
- Разместил
- (U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
