JEDEC JESD22-A117C-2011
Электрически стираемое программируемое ПЗУ (EEPROM), программирование/стирание, долговечность и стресс-тест сохранения данных
Стартовая страница
JEDEC JESD22-A117C-2011
Стандартный №
JEDEC JESD22-A117C-2011
Дата публикации
2011
Разместил
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
© 2023. Все права защищены.