JEDEC JESD51-14-2010 Метод испытаний на переходный процесс с двойным интерфейсом для измерения термического сопротивления перехода к корпусу полупроводниковых приборов с тепловым потоком по одному пути - Стандарты и спецификации PDF

JEDEC JESD51-14-2010
Метод испытаний на переходный процесс с двойным интерфейсом для измерения термического сопротивления перехода к корпусу полупроводниковых приборов с тепловым потоком по одному пути

Стандартный №
JEDEC JESD51-14-2010
Дата публикации
2010
Разместил
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Метод испытаний на переходный процесс с двойным интерфейсом для измерения термического сопротивления перехода к корпусу полупроводниковых приборов с тепловым потоком по одному пути



© 2024. Все права защищены.