JEDEC JESD22-C101D-2008 Метод испытания модели заряженного устройства, индуцированного полем, для определения порогов стойкости микроэлектронных компонентов к электростатическому разряду - Стандарты и спецификации PDF

JEDEC JESD22-C101D-2008
Метод испытания модели заряженного устройства, индуцированного полем, для определения порогов стойкости микроэлектронных компонентов к электростатическому разряду

Стандартный №
JEDEC JESD22-C101D-2008
Дата публикации
2008
Разместил
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
состояние


© 2023. Все права защищены.