DIN EN 60749-8:2003
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 8. Герметизация (IEC 60749-8:2002 + Исправление 1:2003 + Исправление 2:2003); Немецкая версия EN 60749-8:2003
- Стандартный №
- DIN EN 60749-8:2003
- Дата публикации
- 2003
- Разместил
- German Institute for Standardization
- состояние
- быть заменен
- DIN EN 60749-8:2003-12
- Последняя версия
- DIN EN 60749-8:2003-12
- заменять
- DIN EN 60749:2002
- сфера применения
- Проект применим к полупроводниковым приборам (дискретным приборам и интегральным схемам). Целью этого метода испытаний является определение скорости утечки полупроводниковых приборов.
DIN EN 60749-8:2003 История
- 0000 DIN EN 60749-3:2018
- 2003 DIN EN 60749-3:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр (IEC 60749-3:2002); Немецкая версия EN 60749-3:2002.
- 0000 DIN EN 60749:2002
