DIN EN 60749-22:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 22. Прочность соединения (IEC 60749-22:200 + Исправление 1:2003); Немецкая версия EN 60749-22:2003
Проект применим к полупроводниковым приборам (дискретным приборам и интегральным схемам). Целью этого испытания является измерение прочности сцепления или определение соответствия указанным требованиям к прочности сцепления.
DIN EN 60749-22:2003 История
0000 DIN EN 60749-3:2018
2003DIN EN 60749-3:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр (IEC 60749-3:2002); Немецкая версия EN 60749-3:2002.