Настоящий международный стандарт определяет метод использования вихретоковых приборов для неразрушающего измерения толщины непроводящих покрытий на немагнитной основе металлов. Метод применим для измерения толщины большинства оксидных покрытий, полученных анодированием, но не для всех конверсионных покрытий, некоторые из которых слишком тонкие, чтобы их можно было измерить этим методом (см. раздел 7). Хотя теоретически метод можно использовать для измерения толщины покрытий на металлах магнитной основы, его использование для этой цели не рекомендуется. В таких случаях следует использовать магнитный метод, указанный в ISO 2178.