BS EN 60749-18:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Ионизирующее излучение (суммарная доза)

Стандартный №

BS EN 60749-18:2003

Дата публикации

2003

Разместил

British Standards Institution (BSI)

Последняя версия

BS EN 60749-18:2003

заменять

00/203285 DC-2000 BS EN 60749:1999

сфера применения

В этой части IEC 60749 представлена процедура испытаний для определения требований к испытаниям корпусных полупроводниковых интегральных схем и дискретных полупроводниковых устройств на воздействие ионизирующего излучения (общая доза) от источника гамма-излучения кобальта-60 (Co). Этот стандарт предусматривает испытание на ускоренный отжиг для оценки воздействия ионизирующего излучения с низкой мощностью дозы на устройства. Этот тест на отжиг важен для случаев низкой мощности дозы или некоторых других применений, в которых устройства могут проявлять значительные эффекты, зависящие от времени. Настоящий стандарт касается только стационарного облучения и не применим к облучению импульсного типа. Он предназначен для применения в военной и космической сфере. Этот стандарт может привести к серьезному ухудшению электрических свойств облученных устройств, и поэтому его следует рассматривать как разрушающее испытание.

BS EN 60749-18:2003 История

• 2018 BS EN IEC 60749-12:2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Вибрация, переменная частота
• 2002 BS EN 60749-12:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Вибрация переменной частоты.
• 1999 BS EN 60749:1999 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний
• 0000 BS 6493-3:1986