Следующие проблемы обычно возникают при тестировании электроники в радиационной среде. Большинство этих помех возникает, когда испытательная схема облучается под смещением при отключенном ИУ. Настоящее Приложение не является обязательной частью стандарта. Информация, содержащаяся здесь, предназначена только для ознакомления.