IPC TM-650 5.5.3.4-1998 Образец N Прочность на отслаивание - Стандарты и спецификации PDF

IPC TM-650 5.5.3.4-1998
Образец N Прочность на отслаивание

Стандартный №
IPC TM-650 5.5.3.4-1998
Дата публикации
1998
Разместил
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC)
состояние
сфера применения
Этот метод испытаний позволяет оценить склонность к поверхностной электрохимической миграции. Этот метод испытаний можно использовать для оценки материалов и/или процессов пайки.



© 2023. Все права защищены.