IPC TM-650 5.5.2.4-1998 Метод испытания 2.4.9. Прочность на отслаивание - Стандарты и спецификации PDF

IPC TM-650 5.5.2.4-1998
Метод испытания 2.4.9. Прочность на отслаивание

Стандартный №
IPC TM-650 5.5.2.4-1998
Дата публикации
1998
Разместил
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC)
состояние
сфера применения
Целью этого метода испытаний является обеспечение последовательной процедуры проверки чувствительности электронных компонентов к ультразвуковой энергии. В электронной промышленности наблюдается нежелание использовать ультразвуковую энергию для очистки печатных плат из-за возможности повреждения проводных связей в активных, герметично закрытых компонентах или других повреждений, которые могут привести к скрытым отказам. Недавние исследования показали, что электронные компоненты имеют низкую вероятность повреждения ультразвуком (см. 6.1) в условиях, наблюдаемых в большинстве процессов очистки. Кроме того, MILSTD-2000 Rev. A и J-STD O01 nbw допускают использование ультразвуковой очистки, равно как и предложение по международным стандартам IEC TC91, основанное на обновленной версии J-STD-001.



© 2023. Все права защищены.