IPC TM-650 2.5.5.5-1998 Тест полосковой линии на диэлектрическую проницаемость и тангенс потерь (диэлектрическая проницаемость и коэффициент рассеяния) в X-диапазоне, версия C
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC)
состояние
сфера применения
Тест полосковой линии на диэлектрическую проницаемость и тангенс потерь (диэлектрическая проницаемость и коэффициент рассеяния) в X-диапазоне, версия C