JEDEC JESD57-1996
Методики испытаний для измерения одиночных эффектов в полупроводниковых устройствах от облучения тяжелыми ионами

Стандартный №

JEDEC JESD57-1996

Дата публикации

1996

Разместил

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

сфера применения

Этот метод испытаний определяет требования и процедуры для наземных испытаний интегральных схем на одиночные эффекты (SEE).