JEDEC JESD51-4-1997 Рекомендации по использованию чипов для термических испытаний (чипы с проводным соединением), исправления – сентябрь 1997 г.; Заменяет JEP129: 1997. - Стандарты и спецификации PDF

JEDEC JESD51-4-1997
Рекомендации по использованию чипов для термических испытаний (чипы с проводным соединением), исправления – сентябрь 1997 г.; Заменяет JEP129: 1997.

Стандартный №
JEDEC JESD51-4-1997
Дата публикации
1997
Разместил
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
состояние
заменить на
JEP126-1997
сфера применения
(Из бюллетеня Совета JEDEC JCB-96-25, составленного под контролем Комитета JC-15.1 по термическим характеристикам).



© 2023. Все права защищены.