(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
сфера применения
Этот документ определяет методологию оптимизации (устранение, сокращение или альтернативный подход) требований к проверке и тестированию MIL-PRF-38535 для MIL-PRF-38535, классы Q и V, микросхемы. Неотъемлемой частью этой методологии является применение методов «поточного контроля процессов» и «SPC» к применимым производственным процессам. Этот документ включает процесс первоначального утверждения и последующего сопровождения оптимизации тестирования и скрининга.