JEDEC JESD51-1995
Методика тепловых измерений корпусов компонентов (один полупроводниковый прибор)

Стандартный №

JEDEC JESD51-1995

Дата публикации

1995

Разместил

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

сфера применения

В этом документе представлен обзор методологии, необходимой для проведения значимых тепловых измерений на корпусах, содержащих однокристальные полупроводниковые устройства. Фактические компоненты методологии содержатся в отдельных подробных документах.