JEDEC JESD28-1-2001 Анализ данных с горячими носителями N-канального МОП-транзистора - Стандарты и спецификации PDF

JEDEC JESD28-1-2001
Анализ данных с горячими носителями N-канального МОП-транзистора

Стандартный №
JEDEC JESD28-1-2001
Дата публикации
2001
Разместил
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
сфера применения
Целью данного дополнения является предоставление примеров анализа данных, которые могут быть полезны при анализе данных об ухудшении состояния n-канальных MOSFET, вызванном горячими несущими. Это дополнение не является стандартом, а представляет собой справочник, предлагающий возможные альтернативные методы анализа данных с горячими несущими.



© 2023. Все права защищены.