JEDEC JESD22-B102D-2004 Паяемость - Стандарты и спецификации PDF

JEDEC JESD22-B102D-2004
Паяемость

Стандартный №
JEDEC JESD22-B102D-2004
Дата публикации
2004
Разместил
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
состояние
сфера применения
Этот метод испытаний обеспечивает дополнительные условия для предварительной подготовки и пайки с целью оценки паяемости выводов корпуса устройства. В нем представлены процедуры тестирования пайки погружением и внешним видом устройств для сквозного, осевого и поверхностного монтажа, а также испытания моделирования процесса поверхностного монтажа для корпусов для поверхностного монтажа.



© 2023. Все права защищены.