ANSI/ASTM E973M:1996 Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом (метрическим)
Этот метод испытаний охватывает процедуру определения параметра спектрального несоответствия, используемого при тестировании фотоэлектрических устройств. Параметр спектрального несоответствия является мерой погрешности, вносимой при тестировании фотоэлектрического устройства, вызванной несоответствием спектральных характеристик фотоэлектрического устройства и фотоэлектрического эталонного элемента, а также несоответствием между тестовым источником света и эталонным спектральным элементом. распределение освещенности, по которому был откалиброван эталонный фотоэлектрический элемент. Примерами эталонных распределений спектральной освещенности являются таблицы E 490, E 891 или E 892. Параметр спектрального несоответствия можно использовать для коррекции данных о характеристиках фотоэлектрических систем с учетом ошибки спектрального несоответствия. Этот метод испытаний предназначен для использования с линейными фотоэлектрическими устройствами. Аналогичного или эквивалентного стандарта ISO не существует. Этот стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием. Значения, указанные в единицах СИ, следует рассматривать как стандартные.