IEC 62526:2007(E) IEEE 1450.1-2005(E)
МЭК 62526 Ред. 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): Стандарт расширений стандартного языка тестового интерфейса (STIL) для сред проектирования полупроводников.

Стандартный №

IEC 62526:2007(E) IEEE 1450.1-2005(E)

Дата публикации

2007

Разместил

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)